产品列表
已选择:
芯片类型
 
测温类型
 
工作类型
 
科研级红外热像仪SPARK-M100
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 1.5 μm to 5.1 μm
帧频/行频: 120 Hz
NETD: 18 mK
0.0¥0.0
FAST M500vx
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 1.5μm to 5.4μm
帧频/行频: 500 Hz
NETD: 25 mK
0.0¥0.0
FAST M500x
芯片类型: MCT
分  辨  率: 320 x 256
光谱范围: 1.5μm to 5.4μm
帧频/行频: 1400 Hz
NETD: 25 mK
0.0¥0.0
多光谱红外热像仪 MS M100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 3 μm to 4.9 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 17 mK
0.0¥0.0
多光谱红外热像仪 MS V300
芯片类型: MCT
分  辨  率: 320 x 256
光谱范围: 7.7 μm to 11.8 μm
帧频/行频: 309 Hz
NETD: 25 mK
0.0¥0.0
高光谱成像系统
芯片类型:
分  辨  率: 320 x 256
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
0.0¥0.0
模块化高光谱成像仪
芯片类型: MCT
分  辨  率: 320 x 256
光谱范围: 3 μm to 5 μm
帧频/行频:
NETD:
0.0¥0.0
FAST-S2K
芯片类型: InGaAs
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 0.9 μm to 1.7 μm 可选:0.4 um to 1.7 um(VisNIR)
帧频/行频: 1730 Hz
NETD:
0.0¥0.0
FAST-S400
芯片类型: InGaAs
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 0.9 μm to 1.7 μm 可选:0.4 um to 1.7 um(VisNIR)
帧频/行频: 444 Hz
NETD:
0.0¥0.0
FAST M200
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 1.5 μm to 5.1 μm
帧频/行频: 210 Hz
NETD: 18 mK
0.0¥0.0
HDR-IR-M100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 3 μm to 4.9 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 17 mK
0.0¥0.0
R100MC
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 3.7 μm to 4.8 μm
帧频/行频: 60 Hz
NETD: <25 mK
0.0¥0.0
R200M
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 3.7 μm to 4.8 μm
帧频/行频: 210 Hz
NETD: <25 mK
0.0¥0.0
Blackbird 1024×768
芯片类型: 多晶硅
分  辨  率: 1280 x 768
光谱范围: 8 μm to 14 μm
帧频/行频: 30 Hz
NETD: ≤40 mK
0.0¥0.0
FAST V300
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
光谱范围: 7.7 μm to 11.8 μm
帧频/行频: 300 Hz
NETD: 25 mK
0.0¥0.0
Blackbird 640×480
芯片类型: 多晶硅
分  辨  率: 640 x 480
光谱范围: 8 μm to 14 μm
帧频/行频: 30 Hz
NETD: ≤40 mK
0.0¥0.0
上一页 1 2 3 下一页
京公网安备11010802023713
 
 
ABUIABAEGAAggfvP5QUo8MHPpQEw4gI4dA

报价咨询请联系我们

联系电话

010-88119630

13910658965