红外测试系统及设备
当前条件:
红外测试系统及设备
已选择:
超低温真空黑体
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
低温黑体
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
高温腔式黑体
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
红外辐射计
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
扩展面源黑体
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
离轴式准直仪
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
通用探测器电光学测试平台
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
温差和绝对温度扩展面源黑体
芯片类型:
分  辨  率:
像素尺寸:
光谱范围:
帧频/行频:
NETD:
上一页 1 下一页
京公网安备11010802023713
报价咨询联系我们
 
 
 
 

报价咨询联系我们

联系电话

010-88850488

13501181057