TELOPS热像仪系列
当前条件:
TELOPS热像仪系列
已选择:
芯片类型
 
分  辨  率
 
测温类型
 
工作类型
 
FAST-S2K
芯片类型: InGaAs
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 20 μm
光谱范围: 0.9 μm to 1.7 μm 可选:0.4 um to 1.7 um(VisNIR)
帧频/行频: 1730 Hz
NETD:
FAST-S400
芯片类型: InGaAs
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 20 μm
光谱范围: 0.9 μm to 1.7 μm 可选:0.4 um to 1.7 um(VisNIR)
帧频/行频: 444 Hz
NETD:
FAST M200
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 1.5 μm to 5.1 μm
帧频/行频: 210 Hz
NETD: 18 mK
HDR-IR-M100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 3 μm to 4.9 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 17 mK
R100MC
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 3.7 μm to 4.8 μm
帧频/行频: 60 Hz
NETD: <25 mK
R200M
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 3.7 μm to 4.8 μm
帧频/行频: 210 Hz
NETD: <25 mK
FAST V300
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 7.7 μm to 11.8 μm
帧频/行频: 300 Hz
NETD: 25 mK
FAST L100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 8 μm to 9.4 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 32 mK
FAST L200
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 7.7 μm to 9.3 μm
帧频/行频: 234 Hz
NETD: 22 mK
FAST M80hd
芯片类型: MCT
分  辨  率: 1280 x 1024
像素尺寸: 8 μm
光谱范围: 3.7 μm to 5 μm
帧频/行频: 59 Hz
NETD: 25 mK
FAST M100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 3 μm to 4.9 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 17 mK
FAST V100k
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 7.8 μm to 11.4 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 32 mK
HDR-IR-V300
芯片类型: MCT
分  辨  率: 320 x 256
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 7.7 μm to 11.8 μm
帧频/行频: 309 Hz
NETD: 25 mK
MS M100K
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 16 μm
光谱范围: 3 μm to 4.9 μm
帧频/行频: 115 Hz
NETD: 17 mK
MS V300
芯片类型: MCT
分  辨  率: 320 x 256
像素尺寸: 30 μm
光谱范围: 7.7 μm to 11.8 μm
帧频/行频: 309 Hz
NETD: 25 mK
R100L
芯片类型: MCT
分  辨  率: 640 x 512
像素尺寸: 15 μm
光谱范围: 7.7 μm to 9.3 μm
帧频/行频: 200 Hz
NETD: <25 mK
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